成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測試系統(tǒng)是一種用于評估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過施加高加速偏...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST測試機(jī)Burn-in Chamber高加速老化測試，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等...
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詳細(xì)摘要： 中冷HAST高低溫試驗(yàn)箱非飽和度老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺CHUCK探針臺卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺Thermo chuck探針臺卡盤，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可...
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詳細(xì)摘要： Thermochuck熱控卡盤 晶圓臺，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高...
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詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗(yàn)箱非飽和度老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，...
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詳細(xì)摘要： HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在...
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詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀搭配液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗(yàn)，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀搭配Keysight進(jìn)行功率器件高低溫測試，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測試。
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詳細(xì)摘要： CAF測試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱系統(tǒng)，CAF測試也叫離子遷移測試，CAF測試是一種用于評估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測試通常用于檢測包裝材料、食品接...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀與液晶顯示屏測量高低溫系統(tǒng)試驗(yàn)，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor,...
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詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗(yàn)箱 老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺測試臺，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 中冷HAST高低溫試驗(yàn)箱老化高加速，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺測試臺，是一種用于微電子器件測試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺載物臺。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測試，因此具有高可靠性和高精度。
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片老化測試Small Burn-in Tester，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在高低...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片老化測試Small Burn-in Test system，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使...
產(chǎn)品型號：所在地：成都市更新時間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 芯片動態(tài)老化測試系統(tǒng)，高低溫在線測試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測試專用設(shè)備。能使用戶在高低溫條件下對半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
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