成都中冷低溫科技有限公司
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詳細(xì)摘要： （售價(jià)僅供參考）桌上型高低溫冷熱臺(tái)ATC860，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： （售價(jià)僅供參考）ThermoTST ATC840桌面式快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī)，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合...
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詳細(xì)摘要： （售價(jià)僅供參考）桌面式高低溫測(cè)試儀，接觸式高低溫設(shè)備是成都中冷研發(fā)的針對(duì)芯片可靠性測(cè)試的專用設(shè)備，通過(guò)測(cè)試頭與待測(cè)器件直接貼合的方式實(shí)現(xiàn)能量傳遞，與傳統(tǒng)氣流式高...
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詳細(xì)摘要： （售價(jià)僅供參考）zonglen高低溫氣流溫度沖擊系統(tǒng)氣流儀，溫度范圍-70℃到+225℃，溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+125℃之間轉(zhuǎn)換約10秒 ; ...
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詳細(xì)摘要： （售價(jià)僅供參考）Thermal Inducing System高低溫氣流儀TS780，溫度范圍-80℃到+225℃，溫度轉(zhuǎn)換測(cè)試能力。溫度轉(zhuǎn)換從-55℃到+12...
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺(tái)CHUCK卡盤，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺(tái)Thermal CHUCK，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺(tái)，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： ECM-HAST CAF測(cè)試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱，CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試通常用于檢測(cè)包...
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詳細(xì)摘要： CAF-HAST CAF測(cè)試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱，CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試通常用于檢測(cè)包...
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詳細(xì)摘要： 微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)HAST，微波器件高加速壽命偏壓老化測(cè)試系統(tǒng)是一種用于評(píng)估微波器件在很差條件下的性能和可靠性的測(cè)試系統(tǒng)。該系統(tǒng)通過(guò)施加高加速偏...
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詳細(xì)摘要： HAST測(cè)試機(jī)Burn-in Chamber高加速老化測(cè)試，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等...
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詳細(xì)摘要： 中冷HAST高低溫試驗(yàn)箱非飽和度老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試...
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺(tái)CHUCK探針臺(tái)卡盤，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 高低溫載物臺(tái)Thermo chuck探針臺(tái)卡盤，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可...
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詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗(yàn)箱非飽和度老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，...
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詳細(xì)摘要： HAST高溫高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于在...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速壽命偏壓老化試驗(yàn)箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗(yàn)，使用于...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀搭配液晶顯示屏測(cè)量高低溫系統(tǒng)試驗(yàn)，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測(cè)設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor...
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詳細(xì)摘要： 熱流儀搭配Keysight進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試，高低溫沖擊氣流儀TS系列+TCU800P高溫?zé)崤_(tái)搭配是德B1500系列功率分析儀進(jìn)行功率器件高低溫測(cè)試。
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