成都中冷低溫科技有限公司
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經(jīng)營(yíng)模式：經(jīng)銷(xiāo)商
商鋪產(chǎn)品：139條
所在地區(qū)：四川成都市
聯(lián)系人：羅林 （銷(xiāo)售）
詳細(xì)摘要： CAF測(cè)試系統(tǒng)HAST高加速老化試驗(yàn)箱系統(tǒng)，CAF測(cè)試也叫離子遷移測(cè)試，CAF測(cè)試是一種用于評(píng)估材料中離子遷移性質(zhì)的實(shí)驗(yàn)方法。該測(cè)試通常用于檢測(cè)包裝材料、食品接...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 熱流儀與液晶顯示屏測(cè)量高低溫系統(tǒng)試驗(yàn)，ThermoTST高低溫沖擊熱流儀, 兼容各品牌光學(xué)檢測(cè)設(shè)備, 提供顯示行業(yè) LCD, LCM, TV, monitor,...
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詳細(xì)摘要： HAST高低溫試驗(yàn)箱 老化試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺(tái)測(cè)試臺(tái)，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱(chēng)為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 中冷HAST高低溫試驗(yàn)箱老化高加速，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用...
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詳細(xì)摘要： zonglen高低溫載物臺(tái)測(cè)試臺(tái)，是一種用于微電子器件測(cè)試的重要設(shè)備，也被稱(chēng)為探針臺(tái)載物臺(tái)。它可以在高低溫環(huán)境下進(jìn)行微電子器件的測(cè)試，因此具有高可靠性和高精度。
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詳細(xì)摘要： 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Tester，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低...
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詳細(xì)摘要： 芯片老化測(cè)試Small Burn-in Test system，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使...
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詳細(xì)摘要： 芯片動(dòng)態(tài)老化測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件、光耦、...
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詳細(xì)摘要： 電子元器件高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)，高低溫在線測(cè)試系統(tǒng)是為航空、航天等單位開(kāi)發(fā)生產(chǎn)的電子元器件常溫、高溫、低溫在線測(cè)試專(zhuān)用設(shè)備。能使用戶(hù)在高低溫條件下對(duì)半導(dǎo)體分立器件...
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詳細(xì)摘要： 沖擊試驗(yàn)箱 導(dǎo)通電阻測(cè)試系統(tǒng)方案，，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) ...
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詳細(xì)摘要： 電阻 器件溫度系數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，本系統(tǒng)針對(duì) PCB 通路電阻測(cè)試中阻值低、測(cè)試精度高的要求，克服了手工測(cè)量過(guò)程中可能出現(xiàn)的干擾、不穩(wěn)定等技術(shù)問(wèn)題，實(shí)現(xiàn)了對(duì) PCB ...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST加速模擬老化測(cè)試箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)品...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言
詳細(xì)摘要： HAST高加速老化模擬測(cè)試箱，試驗(yàn)箱適用于IC封裝，半導(dǎo)體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴(lài)性試驗(yàn)，使用于在產(chǎn)...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：成都市更新時(shí)間：2025-08-06 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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